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    深圳市華得隆科技有限公司供應的島津熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質的激發光譜、發射光譜、量子產率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。島津熒光光譜儀是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的zui大尺寸要求為直徑51mm,高40mm.

    島津熒光光譜儀操作簡便，工作效率高，一般多元素樣品分析時間為2-3分鐘，儀器維護費用低，且儀器壽命長，比其他于元素分析儀器購置費用低等突出的特點。故目前的在各個行業的化學分析專業均有應用。近幾年特別是在冶金行業尤為突出。如黑色，有色金屬中的各種合金材料，貴金屬，冶金的各種原料，礦石，鐵合金類，爐渣，保護渣，耐火材料等均有良好的應用實踐。 熒光能譜儀具有廣泛的應用領域，在不同的領域應用顯示出不同的鮮明特點。在國外化學分析領域已經得到廣泛的應用。由于這是一種新的分析手段。進入中國分析儀器市場時間不長（1992年以后），許多化學分析，材料分析領域的科研人員尚不熟悉。希望通過本文的介紹，可以引起科研，檢驗，化學分析人員的關注。 一般說來，現在的XRF能夠滿足一般分析測試的需求，對于RoHS指令，其誤差主要來自于樣品以及標準。因此需要對樣品的制備和處理相當重視。同時XRF作為一種比較分析技術，要求所有進入儀器測試的標準樣品和未知樣品具有相同的形貌和重現性。任何樣品制備方法，都必須保證樣品制備的重復性，并在一定的濃度范圍內使樣品具有相似的物理性質。

    熒光光譜分析定性篩查采用定性分析方法來辨認管制物的存在與否。和其他分析程序相比，此測試方法具有快速、很少或者不需要制備樣品，以及寬的動力學范圍。所用的設備很多比其他方法用到的成本更低。取決于控制物質的可接受的標準，以及分析儀器的性能，本測試不能作為裁決性的結果。如果是碰到后者的情況，本測試執行完畢后必須繼續執行定量篩查分析或者其他驗證測試程序來決定樣品中管控物質的存在與否以及濃度。

    熒光光譜儀必須注意的是X射線熒光光譜分析只提供管制物質以元素形式存在與否的信息。特別注意的地方例如對于Cr和Br，其結果只反映總Cr和總Br的存在，而不是管制的Cr(Vi)和PBB,PBDE。因此Cr(VI),PBB,PBDE的存在必須使用驗證測試程序來確認，如果檢測的到Cr或者Br存在。相反必須注意的是如果本方法沒有檢測到Cr和Br的元素形式存在，那么也肯定沒有Cr(VI)和PBB，PBDE。由于XRF光譜法是一種比較的技術，其性能取決于校正的品質，也就是取決于用來建立儀器校正的標準的度。XRF分析對于基體是非常敏感的。這意味著光譜以及基體干擾（例如吸收和增強現象）必須在分析的時候加以考慮，特別是復雜多變的樣品例如聚合物和電子元件。